20. 6. 2019  15:03 Valéria
Akademický informačný systém

Sylabus predmetu N400P2_4D - Pokročilá RTG štruktúrna kryštalografia (FCHPT - 2018/2019 - doktorandské štúdiá)


     Informačný list          ECTS          Sylabus          


     Slovenčina          Angličtina          


Vysoká škola: Slovenská technická univerzita v Bratislave
Fakulta: Fakulta chemickej a potravinárskej technológie
Kód predmetu: N400P2_4D
Názov predmetu: Pokročilá RTG štruktúrna kryštalografia
Druh, rozsah a metóda vzdelávacích činností:
prednáška2 hod. týždenne (prezenčná metóda)

 
Počet kreditov: 3
 
Odporúčaný semester/trimester: chemická fyzika - doktorandský (výberový), 1. rok
Stupeň štúdia: 3.
Podmieňujúce predmety: žiadne
 
Podmienky na absolvovanie predmetu:
skúška
 
Výsledky vzdelávania:
Oboznámiť študentov s pokročilými metódami v kryštalografii. Študent bude informovaný o neutrónovej difrakcii, synchrotrónových zdrojoch a XFEL zariadení. Okrem rutinnej monokryštálovej analýzy bude oboznámený aj so štúdiami nábojového rozdelenia a elektrónovou štuktúrou.
 
Stručná osnova predmetu:
1. Operácie symetrie. Priama a recipročná mriežka
- osi symetrie, inverzné osi symetrie, sklzné roviny, centrum symetrie
- medzinárodné kryštalografické tabuľky

2. Röntgenové žiarenie. Difrakcia röntgenového žiarenia
- vznik rtg. žiarenia, synchrotrón, Braggov zákon

3. Ewaldova konštrukcia. Štruktúrny faktor.

4. Faktory ovplyvňujúce intenzitu difraktovaného žiarenia
- korekcia na absorbciu, Lp-korekcia, sekundárna extinkcia

5. Fourierova transformacia. Metódy riešenia fázového problému.
- Pattersonova syntéza, priame metódy

6. Spresňovanie modelu kryštálovej štruktúry.
- kryštalografické softvéry, disorder, modulovane štruktúry, analýza chýb

7. Kryštalografické databázy.
- Cambridge structural database, štatistické spracovanie štruktúrnych údajov

8. Metódy práškovej analýzy.
- kvalita, kvantita, kryštálová štruktúra z práškových dát

9. Veľké zariadenia pre štruktúrnu analýzu.
- neutrónový reaktor, synchrotrón, XFEL

10. Neutrónografia, spinová hustota.
- kritériá pre vzorky, magnetické štruktúry, spinová hustota

11. Interpretácia kryštalografických výsledkov.
- interpretácia a vizualiácia kryštálovej štruktúry, interpretácia publikovaných štruktúrnych údajov

12. Zíkavanie veľmi presných dát pre multipolárne spresnenie.
- kvalita monokryštáku, meranie pri nízkych teplotách, analýza chýb

13. Štúdium rozdelenia náboja. AIM analýza.
- vzťah experimentálnej a teoretickej elektrónovej štruktúry ku chemickým a fyzikálno-
chemickým vlastnostiam látok

 
Odporúčaná literatúra:
Základné:
GIACOVAZZO, C. Fundamentals of Crystallography. Oxford : Oxford University Press, 1992. 654 s. ISBN 0-19-855579-2.
PAVELČÍK, F. -- KUCHTA, Ľ. Difrakčné metódy. Bratislava : Univerzita Komenského v Bratislave, 1995. 159 s. ISBN 80-223-0892-7.

 
Jazyk, ktorého znalosť je potrebná na absolvovanie predmetu: slovenský jazyk a anglický jazyk
 
Poznámky:
 
Hodnotenie predmetov:
Celkový počet hodnotených študentov: 2

PN
100,0 %0 %
Vyučujúci: doc. Ing. Jozef Kožíšek, CSc. (zodpovedný za predmet) - slovenský jazyk, anglický jazyk
 
Dátum poslednej zmeny: 27. 8. 2018
Schválil: doc. Ing. Jozef Kožíšek, CSc. a garant príslušného študijného programu


Poslednú zmenu urobil Ing. Tomáš Molnár dňa 27. 08. 2018.

Typ výstupu: