22. 10. 2019  19:29 Sergej
Akademický informačný systém

Sylabus predmetu I-NDIO - Návrh a diagnostika IO (FEI - LS 2019/2020)


     Informačný list          ECTS          Sylabus          


     Slovenčina          Angličtina          


Vysoká škola: Slovenská technická univerzita v Bratislave
Fakulta: Fakulta elektrotechniky a informatiky
Kód predmetu: I-NDIO
Názov predmetu: Návrh a diagnostika IO
Druh, rozsah a metóda vzdelávacích činností:
prednáška2 hod. týždenne (prezenčná metóda)
cvičenie2 hod. týždenne (prezenčná metóda)

 
Počet kreditov: 6
 
Odporúčaný semester/trimester: elektronika a fotonika - inžiniersky (povinne voliteľný), 2. semester
Stupeň štúdia: 2.
Podmieňujúce predmety: žiadne
 
Podmienky na absolvovanie predmetu:
Predmet je ukončený záverečnou písomnou skúškou (max. 70 bodov), na ktorej je účasť podmienená získaním zápočtu (max. 30 bodov).
 
Výsledky vzdelávania:
Úspešným absolvovaním predmetu študent získa znalosti o moderných metódach návrhu, simulácie, verifikácie, syntézy a testovania integrovaných obvodov a systémov na čipe, ktoré sú navrhované zväčša na vyšších úrovniach abstrakcie použitím jazykov na opis hardvéru. Taktiež sa oboznámi s metódami automatickej konverzie opisu obvodu a princípmi návrhu topografie IO. Nadobudne vedomosti o defektoch technológie, poruchách a modelovaní porúch ako aj o algoritmoch generovania testovacích vektorov. Študent by mal byť schopný aplikovať štandardné metódy "návrhu pre testovateľnosť" a uplatniť získané praktické skúsenosti z testovania vybraných IO.
 
Stručná osnova predmetu:
Delenie zákazníckych IO, postup návrhu aplikačne špecifických integrovaných obvodov (ASIC) obvodov. Úrovne abstrakcie. Ručný návrh analógových ASIC. Návrh topografie (layout) IO. Návrhové pravidlá. Rozptyl parametrov a matching. Monte Carlo a Corner analýza. Metódy návrhu digitálnych ASIC obvodov. HDL metodika návrhu. Jazyky na opis hardvéru. Logická syntéza. Techniky návrhu low-power. Parazitné javy v integrovaných štruktúrach Latchup. Kontaktovanie a puzdrenie, ochrana IO voči elektrostatickému náboju. Logický a parametrický test. Základné fyzikálne defekty, poruchy v IO, modely porúch. Generovanie testovacích vektorov. Metódy návrhu pre testovateľnosť - SCAN metódy a vstavané samočinné testovanie (BIST). Testovanie RAM pamätí. Testovanie analógových IO.
 
Odporúčaná literatúra:
Základné:
AGRAWAL, V. -- BUSHNELL, M. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits. Boston: Springer, 2005. 690 s. ISBN 978-0-7923-7991-1.

Odporúčaná:
D. J. Smith: HDL Chip Design: A practical Guide for Designing, Synthesizing and Simulating ASIC and FPGA using VHDL or Verilog, 1996. 6th printing 2000, Doone Publications, ISBN 0-9651934-3-8

 
Jazyk, ktorého znalosť je potrebná na absolvovanie predmetu: slovenský jazyk alebo anglický jazyk
 
Poznámky:
 
Hodnotenie predmetov:
Celkový počet hodnotených študentov: 134

ABCDEFX
7,5 %7,5 %20,9 %21,6 %33,6 %8,9 %
Vyučujúci: Ing. Juraj Brenkuš, PhD. (cvičiaci, skúšajúci) - slovenský jazyk, anglický jazyk
prof. Ing. Viera Stopjaková, PhD. (cvičiaci, prednášajúci, skúšajúci, zodpovedný za predmet) - slovenský jazyk, anglický jazyk
 
Dátum poslednej zmeny: 13. 5. 2019
Schválil: prof. Ing. Viera Stopjaková, PhD. a garant príslušného študijného programu


Poslednú zmenu urobil RNDr. Marian Puškár dňa 13. 05. 2019.

Typ výstupu: