15. 10. 2019  17:59 Terézia
Akademický informačný systém

Sylabus predmetu I-MAMS - Metódy analýzy materiálov a štruktúr (FEI - ZS 2019/2020)


     Informačný list          ECTS          Sylabus          


     Slovenčina          Angličtina          


Vysoká škola: Slovenská technická univerzita v Bratislave
Fakulta: Fakulta elektrotechniky a informatiky
Kód predmetu: I-MAMS
Názov predmetu: Metódy analýzy materiálov a štruktúr
Druh, rozsah a metóda vzdelávacích činností:
prednáška2 hod. týždenne (prezenčná metóda)
cvičenie2 hod. týždenne (prezenčná metóda)

 
Počet kreditov: 6
 
Odporúčaný semester/trimester: elektronika a fotonika - inžiniersky (povinne voliteľný), 3. semester
Stupeň štúdia: 2.
Podmieňujúce predmety: žiadne
 
Podmienky na absolvovanie predmetu:
Priebežné hodnotenie: test 30 bodov, potrebné je získať minimálne 15 bodov
Záverečné hodnotenie: skúška, 70 bodov
Na získanie hodnotenia A je potrebné získať najmenej 92 bodov, na získanie hodnotenia B najmenej 83 bodov, na hodnotenie C najmenej 74 bodov, na hodnotenie D najmenej 65 bodov a na hodnotenie E najmenej 56 bodov.
 
Výsledky vzdelávania:
Študent získa vedomosti o analytických metódach a ich aplikáciách na analýzu a kontrolu materiálov a štruktúr. Študent bude poznať princípy mikroskopických, difrakčných a spektroskopických metód a bude ich vedieť správne zvoliť a úspešne aplikovať na riešenie konkrétnych problémov.
 
Stručná osnova predmetu:
Základy vákuovej techniky: úvod do fyziky plynov, výroba vákua, meranie vákua
Metódy štúdia morfológie: optická mikroskopia, transmisná a rastrovacia elektrónová mikroskopia (TEM, SEM), tunelová mikroskopia (STM), mikroskopia atómových síl (AFM)
Metódy štúdia štruktúry: teória difrakcie, röntgenové difrakčné techniky, elektrónové difrakčné techniky
Metódy prvkovej analýzy: elektrónové spektroskopie (XPS, UPS, AES), röntgenové spektroskopie (EDS, PIXE, IIXE), iónové spektroskopické techniky (ISS, SIMS, RBS), Ramanova spektroskopia
 
Odporúčaná literatúra:
Odporúčaná:
E. Machlin (ed.): Materials Science in Microelectronics I and II, Elsevier, 2005
J. Fiala, V. Mentl, P. Šutta: Struktura a vlastnosti materiálů, Academia, Praha 3003

 
Jazyk, ktorého znalosť je potrebná na absolvovanie predmetu: slovenský jazyk alebo anglický jazyk
 
Poznámky:
 
Hodnotenie predmetov:
Celkový počet hodnotených študentov: 119

ABCDEFX
68,1 %16,8 %11,8 %2,5 %0,8 %0 %
Vyučujúci: prof. Ing. Juraj Breza, CSc. (cvičiaci, prednášajúci, skúšajúci, tútor, zodpovedný za predmet) - slovenský jazyk
 
Dátum poslednej zmeny: 13. 5. 2019
Schválil: prof. Ing. Juraj Breza, CSc. a garant príslušného študijného programu


Poslednú zmenu urobil RNDr. Marian Puškár dňa 13. 05. 2019.

Typ výstupu: