19. 10. 2019  6:36 Kristián
Akademický informačný systém

Sylabus predmetu EMM201_6I - Experimentálne metódy štúdia materiálov II (MTF - ZS 2020/2021)


     Informačný list          ECTS          Sylabus          


     Slovenčina          Angličtina          


Vysoká škola: Slovenská technická univerzita v Bratislave
Fakulta: Materiálovotechnologická fakulta so sídlom v Trnave
Kód predmetu: EMM201_6I
Názov predmetu: Experimentálne metódy štúdia materiálov II
Druh, rozsah a metóda vzdelávacích činností:
prednáška2 hod. týždenne / 26 hod. za semester štúdia (prezenčná metóda)
26 hod. za semester štúdia (kombinovaná metóda)
laboratórne/konštrukčné cvičenie2 hod. týždenne / 26 hod. za semester štúdia (prezenčná metóda)
26 hod. za semester štúdia (kombinovaná metóda)

 
Počet kreditov: 5
 
Odporúčaný semester/trimester: -- obsah tejto položky nebol definovaný --
Stupeň štúdia: 1. + 2., 2.
Podmieňujúce predmety: žiadne
 
Podmienky na absolvovanie predmetu:
Počas semestra budú na prednáške dva písomné testy znalostí z odprednášanej látky a cvičení z maximálnym bodovým hodnotením po 10 bodov. Z odcvičenej látky je študent povinný vypracovať a odovzdať 4 elaboráty s bodovým hodnotením za každý po 10 bodov. Študentovi, ktorý získa menej ako 15 bodov sa neudelia kredity.
 
Výsledky vzdelávania:
Študent získa znalosti z experimentálnych metód využívajúcich interakciu elektrónového, röntgenového a gama žiarenia s látkou. Podrobne sa oboznámi s činnosťou rastrovacieho elektrónového mikroskopu, difrakciou spätne odrazených elektróv (EBSD), spektrometrov EDS a WDS, Augerovou spektroskopiou, spektroskopiou XPS, optických emisných a absorpčných spektrometrov, rtg. fluorescenčných spektrometrov, hmotnostným spektrometrom sekundárnych iónov a spaľovacími metódami. Pomocou praktických úloh študent získa experimentálne skúsenosti pri práci s týmito zariadeniami. Súčasne pri vyhodnocovaní nameraných údajov získa prehľad o možnostiach uplatnenia týchto metód pri štúdiu kovových a nekovových materiálov.
 
Stručná osnova predmetu:
Rozdelenie spektroskopických metód. Význam spektroskopie v materiálovom inžinierstve. Fyzikálne základy mikroanalýzy. Interakcia elektrónového a röntgenoveho žiarenia s látkou. Riadkovacia elektrónová mikroskopia (REM). Princíp činnosti riadkovacieho mikroskopu, základné konštrukčné prvky, vlastnosti primárneho zväzku, výber optimálnych podmienok, pracovné režimy, zobrazenie v sekundárnych elektrónoch, zobrazenie v odrazených elektrónoch, difrakcia spätne odrazených elektrónov, oblasti použitia. Vlnovo disperzná elektrónová mikroanalýza (VDA). Princíp metódy, popis zariadenia, rozdelenie analyzujúcich kryštálov, kvalitatívna analýza, kvantitatívna analýza, štandardy, korekcie ZAF a FI-PSI, presnosť metódy, obmedzujúce podmienky, požiadavky na kvalitu analyzovaných vzoriek. Bodová, čiarová a plošná analýza. Praktické príklady. Energiovo disperzná elektrónová mikroanalýza (EDA). Princíp metódy, popis zariadenia, kvalitatívna analýza, kvantitatívna analýza, korekcie ZAF a FI-PSI, presnosť metódy, obmedzujúce podmienky, požiadavky na kvalitu analyzovaných vzoriek. Bodová, čiarová a plošná analýza. Augerova elektrónová spektroskopia (AE). Princíp metódy, vznik Augerových elektrónov, energetické kritériá, popis zariadenia, oblasti použitia, presnosť metódy, obmedzujúce podmienky, požiadavky na kvalitu analyzovaných vzoriek, použitie pri analýze povrchových vrstiev. Praktické príklady. Spektroskopia spomalených elektrónov (EELS), princíp metódy, popis zariadenia, sériové a paralelné spektrometre, metódy vyhodnocovania a interpretácia spektier, oblasti použitia, presnosť metódy, obmedzujúce podmienky, príklady použitia. Optická emisná spektroskopia, princíp metódy, spôsoby vybudzovania spektier, sekvenčné a simultánne spektrometre, optické systémy, oblasť určovaných prvkov, interval meraných koncentrácií, presnosť merania. Rtg. fluorescenčná spektroskopia (XRF). Princíp metódy, popis zariadenia, spôsoby merania a vyhodnotenia spektier, oblasti použitia, presnosť metódy, oblasť určovaných prvkov, interval meraných koncentrácií, obmedzujúce podmienky, požiadavky na kvalitu analyzovaných vzoriek. Hmotnostná spektrometria sekundárnych iónov. Princíp metódy, teoretické základy, prístrojové vybavenie, meranie energetického a uhlového rozdelenie sekundárnych iónov, magnetické a kvadrupólové detektory iónov, presnosť a citlivosť metódy, oblasti použitia. Ostatné kvantitatívne metódy.
 
Odporúčaná literatúra:
Základné:
HULÍNSKÝ, V. -- JUREK, K. Zkoumání látek elektronovým paprskem. Praha : SNTL, 1982. 401 s.
JANDOŠ, F. -- ŘÍMAN, R. -- GEMPERLE, A. Využití moderních laboratorních metod v metalografii. Praha : SNTL, 1985. 384 s.
ČAPLOVIČ, Ľ. Apply of Selected Experimental Technics in Materials Engineering. Dresden : Forschungszentrum Dresden, 2009. 97 s. ISBN 978-3-941405-00-4.
ČAPLOVIČ, Ľ. Metodológia fyzikálno-metalurgických analýz v materiálovom inžinierstve. Methodology of physical metallurgy analysis in materials engineering. Trnava : AlumniPress, 2008. 91 s. ISBN 978-80-8096-061-2.

 
Jazyk, ktorého znalosť je potrebná na absolvovanie predmetu: slovenský jazyk alebo anglický jazyk
 
Poznámky:
 
Hodnotenie predmetov:
Celkový počet hodnotených študentov: 119

ABCDEFX
16,0 %23,5 %32,8 %24,4 %2,5 %0,8 %
Vyučujúci: prof. Ing. Ľubomír Čaplovič, PhD. (cvičiaci, prednášajúci, skúšajúci, zodpovedný za predmet) - slovenský jazyk
prof. Ing. Mária Dománková, PhD. (cvičiaci, prednášajúci, skúšajúci) - slovenský jazyk
doc. Ing. Martin Kusý, PhD. (cvičiaci) - slovenský jazyk
doc. Ing. Roman Moravčík, PhD. (cvičiaci) - slovenský jazyk
Ing. Martin Sahul, PhD. (cvičiaci)
 
Dátum poslednej zmeny: 15. 8. 2019
Schválil: prof. Ing. Ľubomír Čaplovič, PhD. a garant príslušného študijného programu


Poslednú zmenu urobila Ing. Erika Kuracinová dňa 15. 08. 2019.

Typ výstupu: