27. 10. 2020  17:14 Sabína, pamätný deň - Deň černovskej tragédie
Akademický informačný systém

Sylabus predmetu N416T0_4I - Tenké vrstvy a materiálová tlač (FCHPT - LS 2020/2021)


     Informačný list          ECTS          Sylabus          


     Slovenčina          Angličtina          


Vysoká škola:
Slovenská technická univerzita v Bratislave
Fakulta:
Kód predmetu:
N416T0_4I
Názov predmetu:
Tenké vrstvy a materiálová tlač
Druh, rozsah a metóda vzdelávacích činností:
prednáška
2 hod. týždenne (prezenčná metóda)

 
Počet kreditov:
2
 
Odporúčaný semester/trimester: ochrana materiálov a objektov dedičstva - inžiniersky (výberový), 2. semester
prírodné a syntetické polyméry - inžiniersky (výberový), 2. semester
prírodné a syntetické polyméry - inžiniersky (výberový), 2. semester
Stupeň štúdia: 2.
Podmieňujúce predmety:
žiadne
 
Podmienky na absolvovanie predmetu:
Podmienky na absolvovanie predmetu sú v súlade so Študijným poriadkom STU.
 
Výsledky vzdelávania:
Získanie vedomostí o technológiách povrchových úprav a tvorby tenkých vrstiev depozičnými a nanášacími metódami, včítane tlačových metód, a o spôsoboch ich vytvrdzovania a hodnotenia ich vlastností
 
Stručná osnova predmetu:
1. Vymedzenie tenkej vrstvy, teoretické prístupy a oblasti aplikácií
2. Depozičné metódy, fyzikálne-vákuové, chemické, elektrochem., mechanizmus,
3. Výbojové technológie, plazma a plazmová polymerizácia
4. Ovrstvovanie, prenášanie a laminovanie
5. Materiálová tlač, techniky a využitie, tlačená elektronika
6. Troj-dimenzionálna (3D) tlač
7. Vytvrdzovanie, UV a EB technológie
8. Elektrické a optické javy na fázovom rozhraní
9. Povrchové napätie, zmáčanie, rozostieranie a vytesňovanie,
10. Charakterizácia povrchov mikroskopickými a spektrálnymi metódami
11. Mechanické vlastnosti tenkých vrstiev, Adhézia
12. Elektrické a optické vlastnosti, interferencia na tenkej vrstve
13. Metódy meranie hrúbky vrstiev
 
Odporúčaná literatúra:
Základné:
GARAJ, J. -- KOŠINA, S. Vlastnosti a štruktúra tenkých vrstiev. Bratislava : Veda, 1984. 202 s.
BUBERT, H. -- JENETT, H. Surface and Thin Film Analysis. Weinheim : Wiley-VCH, 2002. 336 s. ISBN 3-527-30458-4.
ECKERTOVÁ, L. Fyzika tenkých vrstiev. Praha : SNTL, 1973. 245 s.

 
Jazyk, ktorého znalosť je potrebná na absolvovanie predmetu: slovenský jazyk alebo anglický jazyk
 
Poznámky:
 
Hodnotenie predmetov:
Celkový počet hodnotených študentov: 40

ABC
D
EFX
45,0 %
30,0 %
15,0 %
7,5 %
2,5 %
0 %
Vyučujúci:
doc. RNDr. Milan Mikula, CSc. (zodpovedný za predmet) - slovenský jazyk, anglický jazyk
 
Dátum poslednej zmeny:
29. 4. 2020
Schválil: doc. RNDr. Milan Mikula, CSc. a garant príslušného študijného programu


Poslednú zmenu urobil Samuel Hraško dňa 29. 04. 2020.

Typ výstupu: