26. 5. 2020  13:07 Dušan
Akademický informační systém

Lidé na STU


Na této stránce máte zobrazeny všechny veřejně přístupné údaje o zadané osobě. Některé informace o personálním zařazení a funkcích osoby mohou být skryty.

prof. Ing. Alexander Šatka, CSc.
Identifikační číslo: 1865
Univerzitní e-mail: alexander.satka [at] stuba.sk
 
Profesor CSc.,PhD. - Ústav elektroniky a fotoniky (FEI)

Kontakty
     
Výuka          
Publikace
     Orgány     Vedené práce
     

Rok:
Řadit dle:

Zvolená osoba je autorem následujících publikací.

Poř.Publikace
Druh výsledku
Rok
Podrobnosti
1.Cathodoluminescence analysis of In-rich InAlN layers
Priesol, Juraj -- Šatka, Alexander -- Uherek, František -- Hasenöhrl, Stanislav -- Chauhan, Prerna -- Kuzmík, Ján
Cathodoluminescence analysis of In-rich InAlN layers. In WOCSDICE 2019. Cabourg, 2019: 2019.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty
2019
Podrobnosti
2.
Device and circuit models of monolithic InAlN/GaN NAND and NOR logic cells comprising D- and E-mode HEMT
Chvála, Aleš -- Nagy, Lukáš -- Marek, Juraj -- Priesol, Juraj -- Donoval, Daniel -- Šatka, Alexander -- Blaho, Michal -- Gregušová, Dagmar -- Kuzmík, Ján
Device and circuit models of monolithic InAlN/GaN NAND and NOR logic cells comprising D- and E-mode HEMT. Journal of Circuits Systems and Computers, 28. s. 2019.
články v časopisech
2019Podrobnosti
3.Electrothermal simulation of power multifinger HEMT
Chvála, Aleš -- Marek, Juraj -- Černaj, Ľuboš -- Príbytný, Patrik -- Kozárik, Jozef -- Šatka, Alexander -- Donoval, Daniel
Electrothermal simulation of power multifinger HEMT. In YURISH, S Y. Advances in Microelectronics: Reviews. Barcelova: IFSA Publishing, 2019, s. 289--306. ISBN 978-84-09-08160-8.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty
2019
Podrobnosti
4.Characterization of a low-frequency noise of JFET transistors
Tisovský, Erik -- Šatka, Alexander -- Priesol, Juraj
Characterization of a low-frequency noise of JFET transistors. In JANDURA, D. -- ŠUŠLIK, Ľ. -- URBANCOVÁ, P. -- KOVÁČ, J. ADEPT 2019. Žilina: University of Žilina, 2019, s. 231--234. ISBN 978-80-554-1568-0.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty
2019
Podrobnosti
5.
Characterization of monolithic InAlN/GaN NAND and NOR logic gates supported by circuit and device simulations
Chvála, Aleš -- Nagy, Lukáš -- Marek, Juraj -- Priesol, Juraj -- Donoval, Daniel -- Blaho, Michal -- Gregušová, Dagmar -- Kuzmík, Ján -- Šatka, Alexander
Characterization of monolithic InAlN/GaN NAND and NOR logic gates supported by circuit and device simulations. In WOCSDICE 2019. Cabourg, 2019: 2019.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty
2019
Podrobnosti
6.Charakterizácia anorganických a organických materiálov mikroskopickými metódami
Haško, Daniel -- Šatka, Alexander -- Priesol, Juraj
Charakterizácia anorganických a organických materiálov mikroskopickými metódami. In MICHALKA, M. Fotonika 2019. Bratislava: Medzinárodné laserové centrum, 2019, s. 65--67. ISBN 978-80-972238-7-8.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty
2019
Podrobnosti
7.
Measurement of noise characteristics of selected JFET devices
Tisovský, Erik -- Šatka, Alexander -- Priesol, Juraj
Measurement of noise characteristics of selected JFET devices. In KOZÁKOVÁ, A. ELITECH´19. Bratislava: Vydavateľstvo Spektrum STU, 2019, ISBN 978-80-227-4915-2.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty
2019
Podrobnosti
8.
Measurement of the reverse recovery characteristics of p-n junction diodes by TDT and TDR methods
Vilhan, Martin -- Šatka, Alexander -- Priesol, Juraj
Measurement of the reverse recovery characteristics of p-n junction diodes by TDT and TDR methods. In JANDURA, D. -- ŠUŠLIK, Ľ. -- URBANCOVÁ, P. -- KOVÁČ, J. ADEPT 2019. Žilina: University of Žilina, 2019, s. 251--254. ISBN 978-80-554-1568-0.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
9.
Neural network for circuit models of monolithic InAlN/GaN NAND and NOR logic gates
Chvála, Aleš -- Nagy, Lukáš -- Marek, Juraj -- Priesol, Juraj -- Donoval, Daniel -- Šatka, Alexander
Neural network for circuit models of monolithic InAlN/GaN NAND and NOR logic gates. In DTIS 2019. Danvers: IEEE, 2019, ISBN 978-1-7281-3424-6.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty
2019
Podrobnosti
10.
Perimeter driven transport in the p-GaN gate as a limiting factor for gate reliability
Stoffels, Steve -- Posthuma, Niels -- Decoutere, Stefaan -- Bakeroot, Benoit -- Tallarico, Andrea N. -- Sangiorgi, Enrico C. -- Fiegna, Claudio -- Zheng, J. -- Ma, X. -- Borga, Matteo -- Fabris, Elena -- Meneghini, Matteo -- Zanoni, Enrico -- Meneghesso, Gaudenzio -- Priesol, Juraj -- Šatka, Alexander
Perimeter driven transport in the p-GaN gate as a limiting factor for gate reliability. In 2019 IEEE International Reliability Physics Symposium. Danvers: IEEE, 2019, ISBN 978-1-5386-9504-3.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
11.
TDR and TDT methods for measuring pulse characteristics of semiconductor devices
Vilhan, Martin -- Šatka, Alexander -- Priesol, Juraj
TDR and TDT methods for measuring pulse characteristics of semiconductor devices. In KOZÁKOVÁ, A. ELITECH´19. Bratislava: Vydavateľstvo Spektrum STU, 2019, ISBN 978-80-227-4915-2.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty
2019
Podrobnosti
12.
Využitie katódoluminiscencie pre diagnostiku InAlN vrstie
Priesol, Juraj -- Šatka, Alexander -- Uherek, František -- Hasenöhrl, Stanislav -- Chauhan, Prerna -- Kuzmík, Ján
Využitie katódoluminiscencie pre diagnostiku InAlN vrstie. In MICHALKA, M. Fotonika 2019. Bratislava: Medzinárodné laserové centrum, 2019, s. 68--71. ISBN 978-80-972238-7-8.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty
2019
Podrobnosti

Pomocí následujícího tlačítka můžete zobrazený seznam publikací exportovat do formátu pro tabulkový procesor Excel.