21. 7. 2019  2:17 Daniel
Akademický informačný systém

Ľudia na STU


Na tejto stránke máte zobrazené všetky verejne prístupne údaje o zadanej osobe. Niektoré informácie o personálnom zaradení a funkciách osoby môžu byť skryté.

prof. Ing. Alexander Šatka, CSc.
Identifikačné číslo: 1865
Univerzitný e-mail: alexander.satka [at] stuba.sk
 
Profesor CSc.,PhD. - Ústav elektroniky a fotoniky (FEI)

Kontakty     Výučba     Projekty     Publikácie     Orgány     Vedené práce     

Rok:
Zoraďovať podľa:

Vybraná osoba je autorom nasledujúcich publikácií.

Por.PublikácieDruh výsledkuRokPodrobnosti
1.Electrothermal simulation of power multifinger HEMT
Chvála, Aleš -- Marek, Juraj -- Černaj, Ľuboš -- Príbytný, Patrik -- Kozárik, Jozef -- Šatka, Alexander -- Donoval, Daniel
Electrothermal simulation of power multifinger HEMT. In YURISH, S Y. Advances in Microelectronics: Reviews: Vol. 2. Barcelova : IFSA Publishing, 2019, s. 289--306. ISBN 978-84-09-08160-8.
príspevky v zborníkoch, kapitoly v monografiách/učebniciach, abstrakty2019Podrobnosti
2.Characterization of a low-frequency noise of JFET transistors
Tisovský, Erik -- Šatka, Alexander -- Priesol, Juraj
Characterization of a low-frequency noise of JFET transistors. In JANDURA, D. -- ŠUŠLIK, Ľ. -- URBANCOVÁ, P. -- KOVÁČ, J. ADEPT 2019. Žilina: University of Žilina, 2019, s. 231--134. ISBN 978-80-554-1568-0.
príspevky v zborníkoch, kapitoly v monografiách/učebniciach, abstrakty2019Podrobnosti
3.Measurement of noise characteristics of selected JFET devices
Tisovský, Erik -- Šatka, Alexander -- Priesol, Juraj
Measurement of noise characteristics of selected JFET devices. In KOZÁKOVÁ, A. ELITECH´19. Bratislava: Vydavateľstvo Spektrum STU, 2019, ISBN 978-80-227-4915-2.
príspevky v zborníkoch, kapitoly v monografiách/učebniciach, abstrakty2019Podrobnosti
4.Measurement of the reverse recovery characteristics of p-n junction diodes by TDT and TDR methods
Vilhan, Martin -- Šatka, Alexander -- Priesol, Juraj
Measurement of the reverse recovery characteristics of p-n junction diodes by TDT and TDR methods. In JANDURA, D. -- ŠUŠLIK, Ľ. -- URBANCOVÁ, P. -- KOVÁČ, J. ADEPT 2019. Žilina: University of Žilina, 2019, s. 251--254. ISBN 978-80-554-1568-0.
príspevky v zborníkoch, kapitoly v monografiách/učebniciach, abstrakty2019Podrobnosti
5.TDR and TDT methods for measuring pulse characteristics of semiconductor devices
Vilhan, Martin -- Šatka, Alexander -- Priesol, Juraj
TDR and TDT methods for measuring pulse characteristics of semiconductor devices. In KOZÁKOVÁ, A. ELITECH´19. Bratislava: Vydavateľstvo Spektrum STU, 2019, ISBN 978-80-227-4915-2.
príspevky v zborníkoch, kapitoly v monografiách/učebniciach, abstrakty2019Podrobnosti

Pomocou nasledujúceho tlačidla môžete zobrazený zoznam publikácií exportovať do formátu pre tabuľkový procesor Excel.