13. 11. 2019  7:40 Stanislav
Akademický informačný systém

Ľudia na STU


Na tejto stránke máte zobrazené všetky verejne prístupne údaje o zadanej osobe. Niektoré informácie o personálnom zaradení a funkciách osoby môžu byť skryté.

Ing. Juraj Brenkuš, PhD.
Identifikačné číslo: 19530
Univerzitný e-mail: xbrenkusj [at] stuba.sk
 
Externý spolupracovník - Fakulta informatiky a informačných technológií (STU)

Kontakty     Absolvent     Výučba     Záverečná práca     Publikácie     Vedené práce     

Základné informácie

Základné informácie o záverečnej práci

Typ práce: Dizertačná práca
Názov práce:Metódy zvyšovania kvality parametrických testov pre analógové integrované obvody
Autor: Ing. Juraj Brenkuš, PhD.
Pracovisko: Ústav elektroniky a fotoniky (FEI)
Vedúci práce: prof. Ing. Viera Stopjaková, PhD.
Oponent 1:doc. RNDr. Elena Gramatová, PhD.
Oponent 2:prof. Ing. Miroslav Husák, CSc.
Stav záverečnej práce:Záverečná práca bola úspešne obhájená


Doplňujúce informácie

Nasledujú doplňujúce informácie záverečnej práce. Kliknutím na odkaz s názvom jazyka vyberiete, v akom jazyku majú byť informácie zobrazené.

Jazyk spracovania záverečnej práce:slovenský jazyk

slovenský jazyk        anglický jazyk

Názov práce:Metódy zvyšovania kvality parametrických testov pre analógové integrované obvody
Abstrakt:Táto dizertačná práca sa zaoberá metódami zvyšovania kvality parametrických testov pre analógové integrované obvody, so zameraním sa na časovo efektívny proces návrhu testu ako aj samotnú aplikovateľnosť uvažovaného testu. V teoretickej časti práce je uvedené základné delenie testovacích prístupov, pričom najviac pozornosti je venovanej parametrickým metódam. Následne sú opísané najčastejšie sa vyskytujúce poruchy v CMOS technológiách, ako i spôsoby modelovania ich vplyvu na parametre a činnosť obvodu. Taktiež je tu uvedený prehľad spôsobov poruchovej analýzy lineárnych ako i nelineárnych obvodov. V závere tejto časti sú analyzované existujúe metódy počítania impedancií v obvodoch, ktoré sú využiteľné v procese poruchovej simmulácie. Jadrom práce je časť venovaná návrhu novej, časovo efektívnej metódy počítania impedancií. Navrhnutá výpočtová metóda je založená na vlastných vektoroch a vlastných číslach matice uzlových admitancií obvodu. Následne je podrobne opísaná metodika impedančných poruchových simulácií, ktorá bola v rámci nášho výskumu navrhnutá. Táto metodika je aplikovateľná na ľubovoľný zmiešaný integrovaný obvod s cieľom optimalizovať impedančne založený test. Ďalšia kapitola je venovaná rozvoju parametrických testov, v rámci ktorej je na reálnom obvode strednej zložitosti ukázaná účinnosť a výhody vybranej parametrickej metódy testovania v porovnaní s funkčným a štrukturálnym testom. V experimentálnej časti práce je overená časová efektivita navrhnutej metódy počítania impedancií na symetrických i nesymetrických maticiach, a to pre prípad reálnej aj komplexnej matice. Taktiež je experimentálne dokázaná účinnosť navrhnutej metodiky poruchových simulácií na reálnom obvode s cieľom zvýšenia pokrytia porúch. V záverečnej časti práce sú zhrnuté dosiahnuté výsledky, vedecké a praktické prínosy dizertačnej práce, ako aj smerovanie ďalšieho výskumu v tejto oblasti.
Kľúčové slová:parametrické testy, poruchové simulácie, poruchy a defekty, analógové integrované obvody, kvalita analógového testu

Zobrazenie a sťahovanie súborov

Pokiaľ chcete zobraziť zadanie záverečnej práce, kliknite na ikonu Zobraziť zadanie. Ikony Záverečná práca, Prílohy práce, Posudok vedúceho a Posudok oponenta predstavujú súbory týkajúce sa záverečnej práce, ktoré je možné stiahnuť. Budú zobrazené iba v prípade, že je súbor vložený a zároveň je verejný.

Zobraziť zadanie

Časti práce s odloženým zverejnením:

Záverečná práca (prílohy záverečnej práce) neobmedzene
Posudky záverečnej práce neobmedzene