11. 12. 2019  0:38 Hilda
Akademický informační systém

Lidé na STU


Na této stránce máte zobrazeny všechny veřejně přístupné údaje o zadané osobě. Některé informace o personálním zařazení a funkcích osoby mohou být skryty.

Ing. Arpád Kósa, PhD.
Identifikační číslo: 50249
Univerzitní e-mail: arpad.kosa [at] stuba.sk
 
Výskumný pracovník s VŠ vzdelaním - Ústav elektroniky a fotoniky (FEI)

Kontakty     Absolvent     Výuka     Závěrečná práce     
Projekty     Publikace     Vedené práce     

Rok:
Řadit dle:

Zvolená osoba je autorem následujících publikací.

Poř.PublikaceDruh výsledkuRokPodrobnosti
1.Čierny kremík pre fotovoltické aplikácie
Benko, Peter -- Drobný, Jakub -- Kósa, Arpád -- Harmatha, Ladislav -- Mikolášek, Miroslav -- Svitač, Erik -- Stuchlíková, Ľubica
Čierny kremík pre fotovoltické aplikácie. In Matematika, informační technologie a aplikované vědy. Brno: Univerzita obrany, 2019, ISBN 978-80-7582-097-6.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
2.Defect analysis of InAlGaN/GaN/SiC HEMT heterostructures
Stuchlíková, Ľubica -- Drobný, Jakub -- Kósa, Arpád -- Vadovský, Jakub -- Benko, Peter -- Škoda, Aurel -- Delage, Sylvain Laurent -- Kováč, Jaroslav
Defect analysis of InAlGaN/GaN/SiC HEMT heterostructures. In WOCSDICE 2019. Cabourg, 2019: 2019.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
3.Defect analysis of Ni-Au/AlN/p-Si MIS capacitors
Stuchlíková, Ľubica -- Drobný, Jakub -- Benko, Peter -- Kósa, Arpád -- Mikolášek, Miroslav -- Chvála, Aleš -- Marek, Juraj
Defect analysis of Ni-Au/AlN/p-Si MIS capacitors. In JANDURA, D. -- ŠUŠLIK, Ľ. -- URBANCOVÁ, P. -- KOVÁČ, J. ADEPT 2019. Žilina: University of Žilina, 2019, s. 223--226. ISBN 978-80-554-1568-0.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
4.Defect distribution in Fe - doped InP epitaxial layers
Kósa, Arpád -- Drobný, Jakub -- Kováč, Jaroslav -- Badura, M. -- Sciana, Beata -- Stuchlíková, Ľubica
Defect distribution in Fe - doped InP epitaxial layers. In JANDURA, D. -- ŠUŠLIK, Ľ. -- URBANCOVÁ, P. -- KOVÁČ, J. ADEPT 2019. Žilina: University of Žilina, 2019, s. 175--178. ISBN 978-80-554-1568-0.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
5.Defect distribution in metal-porous siliconsilicon structures
Benko, Peter -- Stuchlíková, Ľubica -- Kósa, Arpád -- Drobný, Jakub -- Harmatha, Ladislav -- Mikolášek, Miroslav -- Kopáni, Martin -- Imamura, Kentaro -- Kobayashi, Hikaru -- Pinčík, Emil
Defect distribution in metal-porous siliconsilicon structures. In JANDURA, D. -- ŠUŠLIK, Ľ. -- URBANCOVÁ, P. -- KOVÁČ, J. ADEPT 2019. Žilina: University of Žilina, 2019, s. 135--138. ISBN 978-80-554-1568-0.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
6.DLTFS study of emission and capture processes in GaN/AlGaN/GaN/SiC HEMT heterostructures with different layer compositions
Drobný, Jakub -- Benko, Peter -- Kósa, Arpád -- Kopecký, Andrej -- Florovič, Martin -- Kováč, Jaroslav -- Delage, Sylvain Laurent -- Stuchlíková, Ľubica
DLTFS study of emission and capture processes in GaN/AlGaN/GaN/SiC HEMT heterostructures with different layer compositions. In WOCSDICE 2019. Cabourg, 2019: 2019.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
7.DLTFS study of GaN/AlGaN/GaN/SiC HEMT heterostructures with different layer composition
Drobný, Jakub -- Kopecký, Andrej -- Kósa, Arpád -- Benko, Peter -- Florovič, Martin -- Kováč, Jaroslav -- Delage, Sylvain Laurent -- Stuchlíková, Ľubica
DLTFS study of GaN/AlGaN/GaN/SiC HEMT heterostructures with different layer composition. In JANDURA, D. -- ŠUŠLIK, Ľ. -- URBANCOVÁ, P. -- KOVÁČ, J. ADEPT 2019. Žilina: University of Žilina, 2019, s. 111--114. ISBN 978-80-554-1568-0.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
8.DLTS study of defect distribution in metal-porous silicon-silicon structures for solar application
Harmatha, Ladislav -- Kósa, Arpád -- Drobný, Jakub -- Mikolášek, Miroslav -- Svitač, Erik -- Benko, Peter -- Greguš, Ján -- Bačová, Silvia -- Zitto, Peter -- Stuchlíková, Ľubica
DLTS study of defect distribution in metal-porous silicon-silicon structures for solar application. In SITEK, J. -- VAJDA, J. -- JAMNICKÝ, I. APCOM 2019. St. Louis: AIP Publishing, 2019, ISBN 978-0-7354-1873-8.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
9.Electrical and DLTS characterization of AlN buffers for GaN on Si technology
Marek, Juraj -- Mikolášek, Miroslav -- Drobný, Jakub -- Zhao, Ming -- Stoffels, Steve -- Kósa, Arpád -- Benko, Peter -- Chvála, Aleš -- Bakeroot, Benoit -- Decoutere, Stefaan -- Stuchlíková, Ľubica
Electrical and DLTS characterization of AlN buffers for GaN on Si technology. In WOCSDICE 2019. Cabourg, 2019: 2019.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
10.Games in technical education
Stuchlíková, Ľubica -- Kósa, Arpád -- Benko, Peter -- Chymo, Filip -- Drobný, Jakub -- Hrbáček, Jiří
Games in technical education. In BAŠTINEC, J. -- HRUBÝ, M. Mathematics, Information Technologies and Applied Sciences 2019. Brno: University of Defence, 2019, s. 102--108. ISBN 978-80-7231-123-2.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
11.Identification of electrically active defects in modern structures based on gallium nitride
Drobný, Jakub -- Kósa, Arpád -- Weis, Martin -- Kováč, Jaroslav -- Stuchlíková, Ľubica
Identification of electrically active defects in modern structures based on gallium nitride. In BAŠTINEC, J. -- HRUBÝ, M. Mathematics, Information Technologies and Applied Sciences 2019. Brno: University of Defence, 2019, s. 50--58. ISBN 978-80-7231-123-2.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
12.Investigating the quality of the silicon and black silicon interface for photovoltaic applications
Benko, Peter -- Kósa, Arpád -- Drobný, Jakub -- Harmatha, Ladislav -- Mikolášek, Miroslav -- Stuchlíková, Ľubica
Investigating the quality of the silicon and black silicon interface for photovoltaic applications. In BAŠTINEC, J. -- HRUBÝ, M. Mathematics, Information Technologies and Applied Sciences 2019. Brno: University of Defence, 2019, s. 14--22. ISBN 978-80-7231-123-2.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
13.Miesto edukačných hier v technickom vzdelávaní
Stuchlíková, Ľubica -- Benko, Peter -- Chymo, Filip -- Drobný, Jakub -- Kósa, Arpád -- Hrbáček, Jiří
Miesto edukačných hier v technickom vzdelávaní. In Matematika, informační technologie a aplikované vědy. Brno: Univerzita obrany, 2019, ISBN 978-80-7582-097-6.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
14.Skúmanie elektricky aktívnych porúch v MOS štruktúrach na báze čierneho kremíka
Svitač, Erik -- Kósa, Arpád
Skúmanie elektricky aktívnych porúch v MOS štruktúrach na báze čierneho kremíka. Diplomová práce. 2019. 61 s.
závěrečná práce2019Podrobnosti
15.Vizualization and processing of a large amount of measured DLTFS data in the evaluation process
Patlevičová, Ivana -- Kósa, Arpád -- Drobný, Jakub -- Michalko, Miroslav -- Jakab, František -- Stuchlíková, Ľubica
Vizualization and processing of a large amount of measured DLTFS data in the evaluation process. In JANDURA, D. -- ŠUŠLIK, Ľ. -- URBANCOVÁ, P. -- KOVÁČ, J. ADEPT 2019. Žilina: University of Žilina, 2019, s. 195--198. ISBN 978-80-554-1568-0.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
16.Vývoj virtuálnej edukačnej hry o diódach
Maslen, Martin -- Kósa, Arpád
Vývoj virtuálnej edukačnej hry o diódach. Bakalářská práce. 2019. 31 s.
závěrečná práce2019Podrobnosti
17.Vývoj virtuálnej edukačnej hry o LED diódach
Janecký, Dominik -- Kósa, Arpád
Vývoj virtuálnej edukačnej hry o LED diódach. Bakalářská práce. 2019. 45 s.
závěrečná práce2019Podrobnosti

Pomocí následujícího tlačítka můžete zobrazený seznam publikací exportovat do formátu pro tabulkový procesor Excel.