21. 8. 2019  11:12 Jana
Akademický informační systém

Lidé na STU


Na této stránce máte zobrazeny všechny veřejně přístupné údaje o zadané osobě. Některé informace o personálním zařazení a funkcích osoby mohou být skryty.

Ing. Robert Szobolovszký
Identifikační číslo: 5551
Univerzitní e-mail: robert.szobolovszky [at] stuba.sk
 
Výskumný pracovník s VŠ vzdelaním - Ústav elektroniky a fotoniky (FEI)
 
2613V25  elektronika a fotonika D-EF
FEI D-EF pres [roč 3]
Doktorský typ studia, denní presenční forma
3. ročník

Kontakty     Absolvent     Závěrečná práce     Projekty     Publikace     Vedené práce     

Rok:
Řadit dle:

Zvolená osoba je autorem následujících publikací.

Poř.PublikaceDruh výsledkuRokPodrobnosti
1.Advanced characterization techniques and analysis of thermal properties of AlGaN/GaN multifinger power HEMTs on SiC substrate supported by three-dimensional simulation
Chvála, Aleš -- Szobolovszký, Robert -- Kováč, Jaroslav -- Florovič, Martin -- Marek, Juraj -- Černaj, Ľuboš -- Donoval, Daniel -- Kováč, Jaroslav -- Dua, Christian -- Delage, Sylvain Laurent -- Jacquet, Jean-Claude
Advanced characterization techniques and analysis of thermal properties of AlGaN/GaN multifinger power HEMTs on SiC substrate supported by three-dimensional simulation. Journal of Electronic Packaging, 141. s. 2019.
články v časopisech2019Podrobnosti
2.Channel temperature determination of HEMT in quasi-static operation
Florovič, Martin -- Szobolovszký, Robert -- Kováč, Jaroslav -- Kováč, Jaroslav -- Chvála, Aleš -- Jacquet, Jean-Claude -- Delage, Sylvain Laurent
Channel temperature determination of HEMT in quasi-static operation. In JANDURA, D. -- ŠUŠLIK, Ľ. -- URBANCOVÁ, P. -- KOVÁČ, J. ADEPT 2019. Žilina: University of Žilina, 2019, s. 55--58. ISBN 978-80-554-1568-0.
příspěvky ve sbornících, kapitoly v monografiích/učebnicích, abstrakty2019Podrobnosti
3.Rigorous channel temperature analysis verified for InAlN/AlN/GaN HEMT
Florovič, Martin -- Szobolovszký, Robert -- Kováč, Jaroslav -- Kováč, Jaroslav -- Chvála, Aleš -- Jacquet, Jean-Claude -- Delage, Sylvain Laurent
Rigorous channel temperature analysis verified for InAlN/AlN/GaN HEMT. Semiconductor Science and Technology, 34. s. 2019.
články v časopisech2019Podrobnosti

Pomocí následujícího tlačítka můžete zobrazený seznam publikací exportovat do formátu pro tabulkový procesor Excel.