20. 1. 2020  7:04 Dalibor
Akademický informačný systém

Ľudia na STU


Na tejto stránke máte zobrazené všetky verejne prístupne údaje o zadanej osobe. Niektoré informácie o personálnom zaradení a funkciách osoby môžu byť skryté.

Ing. Martin Vilhan
Identifikačné číslo: 72668
Univerzitný e-mail: martin.vilhan [at] stuba.sk
 
3971V00  meracia technika D-MT
FEI D-MT-UM den [roč 2]
Doktorandský typ štúdia, denná prezenčná forma
UM-SAV, 2. ročník

Kontakty     Absolvent     Záverečná práca     Publikácie     

Vybraná osoba je autorom nasledujúcich publikácií.

Por.PublikácieDruh výsledkuRokPodrobnosti
1.Measurement of the reverse recovery characteristics of p-n junction diodes by TDT and TDR methods
Vilhan, Martin -- Šatka, Alexander -- Priesol, Juraj
Measurement of the reverse recovery characteristics of p-n junction diodes by TDT and TDR methods. In JANDURA, D. -- ŠUŠLIK, Ľ. -- URBANCOVÁ, P. -- KOVÁČ, J. ADEPT 2019. Žilina: University of Žilina, 2019, s. 251--254. ISBN 978-80-554-1568-0.
príspevky v zborníkoch, kapitoly v monografiách/učebniciach, abstrakty2019Podrobnosti
2.Meranie dynamických vlastností veľmi rýchlych polovodičových prvkov
Vilhan, Martin -- Šatka, Alexander
Meranie dynamických vlastností veľmi rýchlych polovodičových prvkov. Diplomová práca. 2018. 54 s.
záverečná práca2018Podrobnosti
3.Meranie parametrov elektrických impulzov
Vilhan, Martin -- Šatka, Alexander
Meranie parametrov elektrických impulzov. Bakalárska práca. 2016. 43 s.
záverečná práca2016Podrobnosti
4.Simulation analysis of InAlN/GaN monolithic NAND logic cell
Chvála, Aleš -- Nagy, Lukáš -- Marek, Juraj -- Priesol, Juraj -- Donoval, Daniel -- Vilhan, Martin -- Blaho, Michal -- Gregušová, Dagmar -- Kuzmík, Ján -- Šatka, Alexander
Simulation analysis of InAlN/GaN monolithic NAND logic cell. In BREZA, J. -- DONOVAL, D. -- VAVRINSKÝ, E. ASDAM 2018. Danvers: IEEE, 2018, s. 167--170. ISBN 978-1-5386-7488-8.
príspevky v zborníkoch, kapitoly v monografiách/učebniciach, abstrakty2018Podrobnosti
5.TDR and TDT methods for measuring pulse characteristics of semiconductor devices
Vilhan, Martin -- Šatka, Alexander -- Priesol, Juraj
TDR and TDT methods for measuring pulse characteristics of semiconductor devices. In KOZÁKOVÁ, A. ELITECH´19. Bratislava: Vydavateľstvo Spektrum STU, 2019, ISBN 978-80-227-4915-2.
príspevky v zborníkoch, kapitoly v monografiách/učebniciach, abstrakty2019Podrobnosti

Pomocou nasledujúceho tlačidla môžete zobrazený zoznam publikácií exportovať do formátu pre tabuľkový procesor Excel.