21. 9. 2019  19:44 Matúš
Akademický informačný systém

Ľudia na STU


Na tejto stránke máte zobrazené všetky verejne prístupne údaje o zadanej osobe. Niektoré informácie o personálnom zaradení a funkciách osoby môžu byť skryté.

prof. Ing. Alexander Šatka, CSc.
Identifikačné číslo: 1865
Univerzitný e-mail: alexander.satka [at] stuba.sk
 
Profesor CSc.,PhD. - Ústav elektroniky a fotoniky (FEI)

Kontakty     Výučba     Projekty     Publikácie     Orgány     Vedené práce     

Základné informácie

Základné informácie o záverečnej práci

Typ práce: Diplomová práca
Názov práce:Automatizácia meraní nízkofrekvenčného šumu.
Autor: Ing. Tomáš Micovčin
Pracovisko: Ústav elektroniky a fotoniky (FEI)
Vedúci práce: prof. Ing. Alexander Šatka, CSc.
Oponent:Ing. Michal Vereš
Stav záverečnej práce:Záverečná práca bola úspešne obhájená


Doplňujúce informácie

Nasledujú doplňujúce informácie záverečnej práce. Kliknutím na odkaz s názvom jazyka vyberiete, v akom jazyku majú byť informácie zobrazené.

Jazyk spracovania záverečnej práce:slovenský jazyk

slovenský jazyk        anglický jazyk

Názov práce:Automatizácia meraní nízkofrekvenčného šumu.
Abstrakt:Diplomová práca sa zaoberá automatizáciou meracieho pracoviska na meranie nízkofrekvenčného šumu polovodičových prvkov. V prvých kapitolách je stručne charakterizovaný nízkofrekvenčný šum v polovodičových prvkoch a analógovo číslicový prevodník s architektúru sigma-delta, ktorým je možné tento šum merať. Následne je popísané meracie pracovisko a jeho hardvérové vybavenie, ktoré umožňuje merať nízkofrekvenčný šum vo frekvenčnej oblasti od desiatok mHz až do 100 kHz. V rámci práce boli navrhnuté, napísané a odladené jednotlivé algoritmy funkčných blokov a programy pre ovládanie jednotlivých prístrojov a zariadení meracej sústavy v programovacom prostredí LabVIEW. Využitím týchto funkčných blokov boli vyvinuté programy pre meranie nízkofrekvenčných spektrálnych šumových charakteristík diód a tranzistorov, a ich voltampérových charakteristík. Funkčnosť pracoviska je dokumentovaná zmeraním I-V charakteristík tranzistora, a spektra vstupného a výstupného šumu tranzistora. Pracovisko bude využité pre meranie a vyhodnocovanie nízkofrekvenčného šumu v GaN HEMT štruktúrach.
Kľúčové slová:automatizácia, nízkofrekvenčný, LabVIEW

Zobrazenie a sťahovanie súborov

Pokiaľ chcete zobraziť zadanie záverečnej práce, kliknite na ikonu Zobraziť zadanie. Ikony Záverečná práca, Prílohy práce, Posudok vedúceho a Posudok oponenta predstavujú súbory týkajúce sa záverečnej práce, ktoré je možné stiahnuť. Budú zobrazené iba v prípade, že je súbor vložený a zároveň je verejný.

Zobraziť zadanie

Časti práce s odloženým zverejnením:

Záverečná práca (prílohy záverečnej práce) neobmedzene
Posudky záverečnej práce neobmedzene