24. 10. 2019  7:42 Kvetoslava
Akademický informačný systém

Ľudia na STU


Na tejto stránke máte zobrazené všetky verejne prístupne údaje o zadanej osobe. Niektoré informácie o personálnom zaradení a funkciách osoby môžu byť skryté.

prof. Ing. Alexander Šatka, CSc.
Identifikačné číslo: 1865
Univerzitný e-mail: alexander.satka [at] stuba.sk
 
Profesor CSc.,PhD. - Ústav elektroniky a fotoniky (FEI)

Kontakty     Výučba     Projekty     Publikácie     Orgány     Vedené práce     

Základné informácie

Základné informácie o záverečnej práci

Typ práce: Diplomová práca
Názov práce:Automatizácia meraní nízkofrekvenčného šumu.
Autor: Ing. Tomáš Micovčin
Pracovisko: Ústav elektroniky a fotoniky (FEI)
Vedúci práce: prof. Ing. Alexander Šatka, CSc.
Oponent:Ing. Michal Vereš
Stav záverečnej práce:Záverečná práca bola úspešne obhájená


Doplňujúce informácie

Nasledujú doplňujúce informácie záverečnej práce. Kliknutím na odkaz s názvom jazyka vyberiete, v akom jazyku majú byť informácie zobrazené.

Jazyk spracovania záverečnej práce:slovenský jazyk

slovenský jazyk        anglický jazyk

Názov práce:AUTOMATIZATION OF MEASSUREMENT LOW-FREQUENCY NOISE
Abstrakt:This thesis deals with automation of low-frequency noise measurement set-up in semiconductor devices. First chapters briefly describe low-frequency noise in semiconductor devices and analog-digital converter with architecture sigma-delta, which is possible use for low-frequency noise measurements. Further the hardware of low-frequency noise measurement set-up is described allowing to measure low-frequency noise in frequency range from tenth of mHz to 100kHz. The controlling algorithms for particular measurement devices were designed, developed and debugged in LabVIEW and verified with real measurements. Applications with graphic users interface for measurement of input and output low-frequency noise spectral characteristics of diodes and transistors and theirs I-V characteristics were programmed utilizing developed controlling algorithms. Functionality of automated low-frequency noise measurement set-up is demonstrated with measured input and output I-V characteristic and with measured input and output low-frequency noise spectral characteristic. Automated low-frequency noise measurement set-up will be used for low-frequency noise analysis of GaN HEMT transistors.
Kľúčové slová:automatizoation, low noise, LabVIEW

Zobrazenie a sťahovanie súborov

Pokiaľ chcete zobraziť zadanie záverečnej práce, kliknite na ikonu Zobraziť zadanie. Ikony Záverečná práca, Prílohy práce, Posudok vedúceho a Posudok oponenta predstavujú súbory týkajúce sa záverečnej práce, ktoré je možné stiahnuť. Budú zobrazené iba v prípade, že je súbor vložený a zároveň je verejný.

Zobraziť zadanie

Časti práce s odloženým zverejnením:

Záverečná práca (prílohy záverečnej práce) neobmedzene
Posudky záverečnej práce neobmedzene