29. 5. 2020  15:55 Vilma
Akademický informační systém

Přehled vypsaných témat - Fakulta elektrotechniky a informatiky


Základní údaje

Typ práce:
Bakalářská práce
Název tématu:
Príprava tenkých rezov pomocou FIB a ich charakterizácia
Název tématu anglicky:
Preparation and characterization of thin films using FIB technique
Stav tématu:
schváleno (prof. Ing. Vladimír Slugeň, DrSc. - Garant studijního programu)
Vedoucí práce:
Fakulta: Fakulta elektrotechniky a informatiky
Garantující pracoviště: Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva (FEI)
Max. počet studentů:1
Akademický rok:2018/2019
Navrhl: prof. Ing. Peter Ballo, PhD.
Abstrakt: 1. Oboznámte sa so základnými fyzikálnymi javmi, na ktorých je založená funkcia duálneho zariadenia zloženého z elektrónového rastrovacieho mikroskopu na odraz (SEM) a iónového zdroja s fokusovaným iónovým zväzkom (FIB). 2. Naučte sa s uvedeným zariadením samostatne pracovať s cieľom pripraviť tenké lamely z vybraných vzoriek III-V polovodivých tenkých vrstiev. 3. Oboznámte sa s fyzikálnymi základmi vzniku charakteristického röntgenového žiarenia a jeho využitia v energo-dispeznej spektrometrii (EDS). 4. Pripravené lamely charakterizujte pomocou EDS a kriticky zhodnoťte vplyv prípravy tenkých lamiel na namerané výsledky.



Omezení k tématu

K přihlášení řešitele na téma je potřeba splnění jednoho z následujících omezení

Omezení dle studia
Tabulka zobrazuje omezení dle studia, na které musí být student zapsán, aby se mohl na dané téma přihlásit.

ProgramZaměření
B-JFI jadrové a fyzikálne inžinierstvo
B-JFI-FI Fyzikálne inžinierstvo
B-JFI jadrové a fyzikálne inžinierstvoB-JFI-JI Jadrové inžinierstvo

Omezení na předměty
Tabulka zobrazuje omezení na předmět, který musí mít student odstudován, aby se mohl na dané téma přihlásit.

PracovištěNázev předmětu
Nenalezena žádná vyhovující data.