20. 10. 2019  8:31 Vendelín
Akademický informačný systém

Prehľad vypísaných tém - Fakulta elektrotechniky a informatiky


Základné údaje

Typ práce: Bakalárska práca
Názov témy: Príprava tenkých rezov pomocou FIB a ich charakterizácia
Názov témy anglicky: Preparation and characterization of thin films using FIB technique
Stav témy: schválené (prof. Ing. Vladimír Slugeň, DrSc. - Garant študijného programu)
Vedúci práce: prof. Ing. Peter Ballo, PhD.
Fakulta: Fakulta elektrotechniky a informatiky
Garantujúce pracovisko: Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva - FEI
Max. počet študentov: 1
Akademický rok:2018/2019
Navrhol: prof. Ing. Peter Ballo, PhD.
Abstrakt: 1. Oboznámte sa so základnými fyzikálnymi javmi, na ktorých je založená funkcia duálneho zariadenia zloženého z elektrónového rastrovacieho mikroskopu na odraz (SEM) a iónového zdroja s fokusovaným iónovým zväzkom (FIB). 2. Naučte sa s uvedeným zariadením samostatne pracovať s cieľom pripraviť tenké lamely z vybraných vzoriek III-V polovodivých tenkých vrstiev. 3. Oboznámte sa s fyzikálnymi základmi vzniku charakteristického röntgenového žiarenia a jeho využitia v energo-dispeznej spektrometrii (EDS). 4. Pripravené lamely charakterizujte pomocou EDS a kriticky zhodnoťte vplyv prípravy tenkých lamiel na namerané výsledky.



Obmedzenie k téme

Na prihlásenie riešiteľa na tému je potrebné splnenie jedného z nasledujúcich obmedzení

Obmedzenie podľa štúdia
Tabuľka zobrazuje obmedzenia podľa štúdia, na ktoré musí byť študent zapísaný, aby sa mohol na danú tému prihlásiť.

ProgramZameranie
B-JFI jadrové a fyzikálne inžinierstvoB-JFI-FI Fyzikálne inžinierstvo
B-JFI jadrové a fyzikálne inžinierstvoB-JFI-JI Jadrové inžinierstvo

Obmedzenie na predmety
Tabuľka zobrazuje obmedzenia na predmet, ktorý musí mať študent odštudovaný, aby sa mohol na danú tému prihlásiť.

PracoviskoNázov predmetu
Nenájdené žiadne vyhovujúce dáta.