18. 4. 2019  12:47 Valér
Akademický informační systém

Přehled vypsaných témat - Fakulta elektrotechniky a informatiky


Základní údaje

Typ práce: Bakalářská práce
Název tématu: Teplotná analýza štruktúr s vysokým odporom na báze GaN pomocou Van der Pauw a Hall meracích techník
Název tématu anglicky: Temperature analysis of structure with high resistivity based on GaN
Stav tématu: schváleno (prof. Ing. Daniel Donoval, DrSc. - Garant studijního programu)
Vedoucí práce: Ing. Roman Stoklas, PhD.
Fakulta: Fakulta elektrotechniky a informatiky
Garantující pracoviště: Ústav elektroniky a fotoniky (FEI)
Max. počet studentů: --
Akademický rok:2018/2019
Navrhl: Ing. Roman Stoklas, PhD.
Abstrakt: Pedagogický vedúci: Ing. Martin Florovič, PhD. (ÚEF FEI STU) Tému vypisuje Elektrotechnický ústav SAV, pozri PhD štúdium na www.elu.sav.sk. Polovodičové štruktúry s vysokým odporom vyžadujú špeciálne meracie metódy zamerané na zníženie vplyvu kontaktov, ako aj vplyv napäťových a teplotných efektov. Štruktúry s vysokým merným odporom sú žiadúce ako bufferová vrstva pre HFET tranzistory z dôvodu zníženia drainového prúdu v zatvorenom stave. V prípade vertikálnej konfigurácie sa odporová vrstva, kompenzovaná uhlíkom, využíva pre zvýšenie prierazného napätia. Van der Pauw metóda patrí medzi najpoužívanejšie meraci techniky najmä pre dotované štruktúry. Okrem odporu je možné použitím magnetického poľa určiť aj pohyblivosť a koncentráciu nosičov náboja. Avšak pre nedotované príp. uhlíkom kompenzované štruktúry je použitie Van der Pauw metódy pri izbovej teplote limitované malou odozvou nosičov náboja na vplyv magnetického poľa, čo súvisí s malou pohyblivosťou nosičov v štruktúre. Ako alternatíva je možné použiť Van der Pauw resp. Hall meranie s AC signálom, príp. meranie pri rôznych teplotách (vyššie ako izbová teplota), ako aj ich kombinácia. Úlohou študenta bude oboznámenie sa s metodikou merania Van der Pauw a Hall meraním. Interpretácia nameraných výsledkov. Taktiež bude skúmaná teplotná závislosť spomínaných techník, nakoľko analýza merania vysoko-odporových štruktúr len pri izbovej teplote je veľmi problematická.



Omezení k tématu

K přihlášení řešitele na téma je potřeba splnění jednoho z následujících omezení

Omezení na studijní program
Tabulka zobrazuje omezení na studijní program, obor, specializaci, který musí mít student zapsán, aby se mohl na dané téma přihlásit.

ProgramZaměřeníSpecializace
B-ELN elektronika-- nezadáno -- -- nezadáno --

Omezení na předměty
Tabulka zobrazuje omezení na předmět, který musí mít student odstudován, aby se mohl na dané téma přihlásit.

PracovištěNázev předmětu
Nenalezena žádná vyhovující data.