May 21, 2019   2:32 a.m. Zina
Academic information system

Summary of topics offered - Faculty of Electrical Engineering and Information Technology


Basic information

Type of work: Bachelor thesis
Topic: Teplotná analýza štruktúr s vysokým odporom na báze GaN pomocou Van der Pauw a Hall meracích techník
Title of topic in English: Temperature analysis of structure with high resistivity based on GaN
State of topic: approved (prof. Ing. Daniel Donoval, DrSc. - Study programme supervisor)
Thesis supervisor: Ing. Roman Stoklas, PhD.
Faculty: Faculty of Electrical Engineering and Information Technology
Supervising department: Institute of Electronics and Phototonics - FEEIT
Max. no. of students: --
Academic year:2018/2019
Proposed by: Ing. Roman Stoklas, PhD.
Summary: Pedagogický vedúci: Ing. Martin Florovič, PhD. (ÚEF FEI STU) Tému vypisuje Elektrotechnický ústav SAV, pozri PhD štúdium na www.elu.sav.sk. Polovodičové štruktúry s vysokým odporom vyžadujú špeciálne meracie metódy zamerané na zníženie vplyvu kontaktov, ako aj vplyv napäťových a teplotných efektov. Štruktúry s vysokým merným odporom sú žiadúce ako bufferová vrstva pre HFET tranzistory z dôvodu zníženia drainového prúdu v zatvorenom stave. V prípade vertikálnej konfigurácie sa odporová vrstva, kompenzovaná uhlíkom, využíva pre zvýšenie prierazného napätia. Van der Pauw metóda patrí medzi najpoužívanejšie meraci techniky najmä pre dotované štruktúry. Okrem odporu je možné použitím magnetického poľa určiť aj pohyblivosť a koncentráciu nosičov náboja. Avšak pre nedotované príp. uhlíkom kompenzované štruktúry je použitie Van der Pauw metódy pri izbovej teplote limitované malou odozvou nosičov náboja na vplyv magnetického poľa, čo súvisí s malou pohyblivosťou nosičov v štruktúre. Ako alternatíva je možné použiť Van der Pauw resp. Hall meranie s AC signálom, príp. meranie pri rôznych teplotách (vyššie ako izbová teplota), ako aj ich kombinácia. Úlohou študenta bude oboznámenie sa s metodikou merania Van der Pauw a Hall meraním. Interpretácia nameraných výsledkov. Taktiež bude skúmaná teplotná závislosť spomínaných techník, nakoľko analýza merania vysoko-odporových štruktúr len pri izbovej teplote je veľmi problematická.



Limitations of the topic

To sign up for a topic it is necessary to fulfil one of the following restrictions

Limit to study programme
The table shows limitations of study programme, field, track the student has to be enrolled in to be able to register for a given topic.

ProgrammeTrackTrack
B-ELN Electronics-- not entered -- -- not entered --

Limit to courses
The table shows limitations of a course the student has to complete to be able to register for a given topic.

DepartmentCourse title
No suitable data found.