16. 10. 2019  21:16 Vladimíra
Akademický informačný systém

Prehľad vypísaných tém - Fakulta elektrotechniky a informatiky


Základné údaje

Typ práce: Diplomová práca
Názov témy: Skúmanie emisných a záchytných procesov HEMT štruktúr na báze GaN spektroskopiou hlbokých hladín
Názov témy anglicky: Investigation of Emission and Capture Processes of HEMT Structures Based on GaN by Deep Level Transient Spectroscopy
Stav témy: schválené (prof. Ing. Daniel Donoval, DrSc. - Garant študijného programu)
Vedúci práce: prof. Ing. Ľubica Stuchlíková, PhD.
Fakulta: Fakulta elektrotechniky a informatiky
Garantujúce pracovisko: Ústav elektroniky a fotoniky - FEI
Max. počet študentov: --
Akademický rok:2018/2019
Navrhol: prof. Ing. Ľubica Stuchlíková, PhD.
Abstrakt: Táto práca sa zaoberá problematikou elektrickej charakterizácie polovodičových HEMT štruktúr na béze GaN metódou kapacitnej spektroskopie hlbokých hladín (DLTS). Stručne charakterizujte kategorizáciu porúch v GaN, popíšte základné princípy, z ktorých samotná metóda DLTS vychádza a jej obmedzenia. Experimentálne zistite a rozdiskutujte vplyv zmeny vybraných parametrov na vlastnosti predložených HEMT štruktúr na báze GaN.



Obmedzenie k téme

Na prihlásenie riešiteľa na tému je potrebné splnenie jedného z nasledujúcich obmedzení

Obmedzenie podľa štúdia
Tabuľka zobrazuje obmedzenia podľa štúdia, na ktoré musí byť študent zapísaný, aby sa mohol na danú tému prihlásiť.

Program
I-EN elektronika a fotonika

Obmedzenie na predmety
Tabuľka zobrazuje obmedzenia na predmet, ktorý musí mať študent odštudovaný, aby sa mohol na danú tému prihlásiť.

PracoviskoNázov predmetu
Nenájdené žiadne vyhovujúce dáta.