17. 9. 2019  22:30 Olympia
Akademický informačný systém

Prehľad vypísaných tém - Fakulta elektrotechniky a informatiky


Základné údaje

Typ práce: Dizertačná práca
Názov témy: Bezkontaktné meranie geometrických veličín v 3D objektoch s využitím RTG mikrotomografie
Názov témy anglicky: Measurement of geometrical quantities in 3D objects by application of X-ray microtomography
Stav témy: schválené (prof. Ing. Viktor Smieško, PhD. - Predseda odborovej komisie)
Vedúci práce: RNDr. Miroslav Hain, PhD.
Fakulta: Fakulta elektrotechniky a informatiky
Garantujúce pracovisko: Ústav elektrotechniky - FEI
Max. počet študentov: 1
Akademický rok:2019/2020
Navrhol: RNDr. Miroslav Hain, PhD.
Externá vzdelávacia inštitúcia: Ústav merania Slovenskej akadémie vied
Anotácia: Témou dizertačnej práce je rozvoj bezkontaktných mikrotomografických metód merania geometrických veličín v 3D objektov s použitím RTG mikrotomografie. Doktorand by sa mal venovať metódam merania, analýze, vyhodnoteniu rozmerov objektov a pórovitosti materiálov, rozmerovej analýze vnútornej štruktúry kompozitných materiálov. Cieľom práce je rozvoj presných mikrotomografických metód merania geometrických veličín, návrh etalónov a metód kalibrácie mikrotomografického meracieho systému a analýza neistôt merania. Požiadavky na uchádzača sú znalosť odbornej angličtiny, vedomosti z oblasti bezkontaktných metód merania a analýzy neistôt merania. Výhodou sú aj znalosti programovania (C, Matlab) a skúsenosti s návrhom a konštrukciou elektronických obvodov. Počas štúdia bude doktorand oboznámený s činnosťou a obsluhou RTG mikrotomografu, rozšíri si poznatky z oblasti zobrazovacích meracích metód a ich použitím pri materiálovom výskume.
Anotácia anglicky: The topic of the dissertation is the development of contactless microtomographic methods for measurement of geometric quantities in 3D objects using X-ray microtomography. The PhD student should deal with methods of measurement, analysis, evaluation of object dimensions and porosity of materials, dimensional analysis of the inner structure of composite materials. The aim of the thesis is to develop precise microtomographic methods for measuring geometrical quantities, designing etalons and methods of microtomographic measurement system calibration and analyzing measurement uncertainties. Requirements for applicants are knowledge of professional English, knowledge of contactless methods of measurement and analysis of measurement uncertainties. The advantage is also the knowledge of programming (C, Matlab) and experience with design and construction of electronic circuits. During his / her studies, the PhD student will be acquainted with the activities and operation of the X-ray microtomograph, he / she will extend his / her knowledge in the field of imaging measuring methods and their use in material research.



Obmedzenie k téme

Na prihlásenie riešiteľa na tému je potrebné splnenie jedného z nasledujúcich obmedzení

Obmedzenie na študijný program
Tabuľka zobrazuje obmedzenie na študijný program, odbor, špecializáciu, ktorý musí mať študent zapísaný, aby sa mohol na danú tému prihlásiť.

ProgramZameranieŠpecializácia
D-MT meracia technika-- nezadané -- -- nezadané --