19. 10. 2019  15:04 Kristián
Akademický informační systém

Přehled vypsaných témat - Fakulta elektrotechniky a informatiky


Základní údaje

Typ práce: Bakalářská práce
Název tématu: Rastrovacia elektrónová mikroskopia polovodičových štruktúr
Název tématu anglicky: Scanning electron microscopy of semiconductor structures
Stav tématu: schváleno (prof. Ing. Daniel Donoval, DrSc. - Garant studijního programu)
Vedoucí práce: Ing. Juraj Priesol, PhD.
Fakulta: Fakulta elektrotechniky a informatiky
Garantující pracoviště: Ústav elektroniky a fotoniky (FEI)
Max. počet studentů: --
Akademický rok:2018/2019
Navrhl: Ing. Juraj Priesol, PhD.
Abstrakt: V rámci bakalárskeho projektu sa študent oboznámi s princípmi a prácou na rastrovacom elektrónovom mikroskope, pomocou ktorého možno zobrazovať povrchy objektov s vysokým priestorovým rozlíšením. Elektrónový mikroskop je vybavený viacerými detektormi, ktoré umožňujú analyzovať vlastnosti celej škály materiálov a štruktúr využívaných v polovodičovom priemysle. Časť práce bude venovaná skúmaniu interakcie elektrónového zväzku s polovodičovými štruktúrami pomocou počítačových simulácií.



Omezení k tématu

K přihlášení řešitele na téma je potřeba splnění jednoho z následujících omezení

Omezení dle studia
Tabulka zobrazuje omezení dle studia, na které musí být student zapsán, aby se mohl na dané téma přihlásit.

Program
B-ELN elektronika

Omezení na předměty
Tabulka zobrazuje omezení na předmět, který musí mít student odstudován, aby se mohl na dané téma přihlásit.

PracovištěNázev předmětu
Nenalezena žádná vyhovující data.