22. 9. 2019  16:01 Móric
Akademický informačný systém

Prehľad vypísaných tém - Fakulta elektrotechniky a informatiky


Základné údaje

Typ práce: Bakalárska práca
Názov témy: Rastrovacia elektrónová mikroskopia polovodičových štruktúr
Názov témy anglicky: Scanning electron microscopy of semiconductor structures
Stav témy: schválené (prof. Ing. Daniel Donoval, DrSc. - Garant študijného programu)
Vedúci práce: Ing. Juraj Priesol, PhD.
Fakulta: Fakulta elektrotechniky a informatiky
Garantujúce pracovisko: Ústav elektroniky a fotoniky - FEI
Max. počet študentov: --
Akademický rok:2018/2019
Navrhol: Ing. Juraj Priesol, PhD.
Abstrakt: V rámci bakalárskeho projektu sa študent oboznámi s princípmi a prácou na rastrovacom elektrónovom mikroskope, pomocou ktorého možno zobrazovať povrchy objektov s vysokým priestorovým rozlíšením. Elektrónový mikroskop je vybavený viacerými detektormi, ktoré umožňujú analyzovať vlastnosti celej škály materiálov a štruktúr využívaných v polovodičovom priemysle. Časť práce bude venovaná skúmaniu interakcie elektrónového zväzku s polovodičovými štruktúrami pomocou počítačových simulácií.



Obmedzenie k téme

Na prihlásenie riešiteľa na tému je potrebné splnenie jedného z nasledujúcich obmedzení

Obmedzenie na študijný program
Tabuľka zobrazuje obmedzenie na študijný program, odbor, špecializáciu, ktorý musí mať študent zapísaný, aby sa mohol na danú tému prihlásiť.

ProgramZameranieŠpecializácia
B-ELN elektronika-- nezadané -- -- nezadané --

Obmedzenie na predmety
Tabuľka zobrazuje obmedzenia na predmet, ktorý musí mať študent odštudovaný, aby sa mohol na danú tému prihlásiť.

PracoviskoNázov predmetu
Nenájdené žiadne vyhovujúce dáta.