14. 11. 2019  0:10 Irma
Akademický informační systém

Ústav elektroniky a fotoniky (FEI) - seznam publikací


V následujícím souhrnu jsou uvedeny veškeré informace evidované k publikaci.

PETRUSOVÁ, S. -- KOVÁČ, J. Analýza povrchu materiálov pomocou atómového silového mikroskopu. Bakalářská práce. 2019.

Originální název: Analýza povrchu materiálov pomocou atómového silového mikroskopu
Anglický název: Analysys of materials surface using atomic force microscope
Český název:
Autor: Bc. Soňa Petrusová
doc. Ing. Jaroslav Kováč, PhD.
Pracoviště: Ústav elektroniky a fotoniky
Druh publikace: závěrečná práce
Vysoká škola: -
Typ práce: Bakalářská práce
Místo vydání:
Rok vydání: 2019
Počet stran:
Původní jazyk: slovenština
Popis v originálním jazyce:
Popis v anglickém jazyce:
Popis v českém jazyce:
Klíčová slova: slovenština: meranie kalibračných mriežok a merania na pečiatke, AFM, measurements of the calibration grid adn measurements of the stamp, artifacts, artefakty
Rok uplatnění: 2019
Rok odeslání:
 
Záznam vložil: Bc. Soňa Petrusová
Poslední změna: 06.07.2019 22:21 (Import dat z knihovny)