22. 10. 2019  6:22 Sergej
Akademický informačný systém

Ústav elektroniky a fotoniky (FEI) - zoznam publikácií


V nasledujúcom súhrne sú uvedené všetky informácie evidované k publikáciám.

PETRUSOVÁ, S. -- KOVÁČ, J. Analýza povrchu materiálov pomocou atómového silového mikroskopu. Bakalárska práca. 2019.

Originálny názov: Analýza povrchu materiálov pomocou atómového silového mikroskopu
Anglický názov: Analysys of materials surface using atomic force microscope
Český názov:
Autor: Bc. Soňa Petrusová
doc. Ing. Jaroslav Kováč, PhD.
Pracovisko: Ústav elektroniky a fotoniky
Druh publikácie: záverečná práca
Vysoká škola: -
Typ práce: Bakalárska práca
Miesto vydania:
Rok vydania: 2019
Počet strán:
Pôvodný jazyk: slovenčina
Popis v originálnom jazyku:
Popis v anglickom jazyku:
Popis v českom jazyku:
Kľúčové slová: slovenčina: meranie kalibračných mriežok a merania na pečiatke, AFM, measurements of the calibration grid adn measurements of the stamp, artifacts, artefakty
Rok uplatnenia: 2019
Rok odoslania:
 
Záznam vložil: Bc. Soňa Petrusová
Posledná zmena: 06.07.2019 22:21 (Import dát z knižnice)