17. 10. 2019  3:04 Hedviga
Akademický informačný systém

Ústav elektroniky a fotoniky (FEI) - zoznam publikácií


V nasledujúcom súhrne sú uvedené všetky informácie evidované k publikáciám.

TISOVSKÝ, E. -- ŠATKA, A. -- PRIESOL, J. Characterization of a low-frequency noise of JFET transistors. In JANDURA, D. -- ŠUŠLIK, Ľ. -- URBANCOVÁ, P. -- KOVÁČ, J. ADEPT 2019. Žilina: University of Žilina, 2019, s. 231--234. ISBN 978-80-554-1568-0.

Originálny názov: Characterization of a low-frequency noise of JFET transistors
Slovenský názov:
Autor: Ing. Erik Tisovský (50%)
prof. Ing. Alexander Šatka, CSc. (25%)
Ing. Juraj Priesol, PhD. (25%)
Pracovisko: Ústav elektroniky a fotoniky
Druh publikácie: príspevky v zborníkoch, kapitoly v monografiách/učebniciach, abstrakty
Zborník: ADEPT 2019
Podnázov:
Od strany: 231
Do strany: 234
Počet strán: 4
Pôvodný jazyk: angličtina
Kategória publikácie: AFD Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách.
Vedný odbor:
Kľúčové slová: slovenčina: Noise measurement, 1/f noise, JFET transistor, generation-recombination noise
Rok uplatnenia: 2019
Rok odoslania: 2019
 
Záznam vložil: Ing. Erik Tisovský
Posledná zmena: 13.07.2019 22:21 (Import dát z knižnice)


Bližšie určenie zdroja:

JANDURA, D. -- ŠUŠLIK, Ľ. -- URBANCOVÁ, P. -- KOVÁČ, J. ADEPT 2019. Žilina: University of Žilina, 2019. ISBN 978-80-554-1568-0.

Originálny názov: ADEPT 2019
Anglický názov:
Český názov:
Editor: Daniel Jandura (25%)
Ľuboš Šušlik (25%)
Petra Urbancová (25%)
doc. Ing. Jaroslav Kováč, PhD. (25%)
Druh publikácie: zborník
ISBN: 978-80-554-1568-0
Vydavateľ: University of Žilina
Miesto vydania: Žilina
Edícia a číslo zväzku:
Rok vydania: 2019
Číslo vydania:
Počet strán:
Typ rozsahu:
Druh zborníka:
Akcia:
Pôvodný jazyk:
Popis v originálnom jazyku:
Popis v anglickom jazyku:
Popis v českom jazyku:
Rok uplatnenia: 2019
Rok odoslania:
Posledná zmena: 28.09.2019 22:21 (Import dát z knižnice)