22. 11. 2019  22:17 Cecília
Akademický informační systém

Centrum STU pre nanodiagnostiku (UVP OUP REK) - seznam publikací


V následujícím souhrnu jsou uvedeny veškeré informace evidované k publikaci.

ZÁPRAŽNÝ, Z. -- KORYTÁR, D. -- JERGEL, M. -- HALAHOVETS, Y. -- KOTLÁR, M. -- MATKO, I. -- HAGARA, J. -- ŠIFFALOVIČ, P. -- KECKES, J. -- MAJKOVÁ, E. Characterization of the chips generated by the nanomachining of germanium for X-ray crystal optics. International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 102. s. 9--12.

Originální název: Characterization of the chips generated by the nanomachining of germanium for X-ray crystal optics
Slovenský název:
Autor: Zdenko Zápražný
Dušan Korytár
Matej Jergel
Yurily Halahovets
Ing. Mário Kotlár, PhD.
Igor Matko
Ing. Jakub Hagara
Peter Šiffalovič
Jozef Keckes
Eva Majková
Pracoviště: Centrum STU pre nanodiagnostiku
Druh publikace: články v časopisech
Periodikum: International Journal of Advanced Manufacturing Technology
Číslo svazku (ročník): 102
Od strany: 9
Do strany: 12
Počet stran: 4
Původní jazyk: angličtina
Kategorie publikace: ADC Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
Vědní obor:
Rok uplatnění: 2019
Rok odeslání: 2019
 
Záznam vložil: Ing. Mário Kotlár, PhD.
Poslední změna: 21.09.2019 22:20 (Import dat z knihovny)


Bližší určení zdroje:

International Journal of Advanced Manufacturing Technology. 2019.

Originální název: International Journal of Advanced Manufacturing Technology
Anglický název:
Český název:
Editor:
Druh publikace: sborník
ISBN:
Nakladatel:
Místo vydání:
Edice a číslo svazku:
Rok vydání: 2019
Číslo vydání:
Počet stran:
Typ rozsahu:
Druh sborníku:
Akce:
Původní jazyk:
Popis v originálním jazyce:
Popis v anglickém jazyce:
Popis v českém jazyce:
Rok uplatnění: 2019
Rok odeslání:
Poslední změna: 21.09.2019 22:20 (Import dat z knihovny)