19. 7. 2019  18:25 Dušana
Akademický informační systém

Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva (FEI) - seznam publikací


V následujícím souhrnu jsou uvedeny veškeré informace evidované k publikaci.

KLAČKOVÁ, I. -- BLAJ, G. -- DENES, P. -- DRAGONE, A. -- GÖDE, S. -- HAUF, S. -- JANUSCHEK, F. -- JOSEPH, J. -- KUSTER, M. Characterization of the ePix100a and the FastCCd semiconductor detectors for the European XFEL. Journal of Instrumentation, 14. s. 2019.

Originální název: Characterization of the ePix100a and the FastCCd semiconductor detectors for the European XFEL
Slovenský název:
Autor: Ing. Ivana Klačková (65%)
Gabriel Blaj (10%)
Peter Denes (2%)
Angelo Dragone (2%)
Sebastian Göde (2%)
Steffen Hauf (10%)
Friederike Januschek (2%)
John Joseph (2%)
Markus Kuster (5%)
Pracoviště: Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva
Druh publikace: články v časopisech
Periodikum: Journal of Instrumentation
Číslo svazku (ročník): 14
Od strany: 2019
Do strany: 2019
Počet stran: 1
Původní jazyk: angličtina
Kategorie publikace: AFC Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
Vědní obor:
Klíčová slova: slovenština: X-ray detectors, Solid state detectors, analysis and statistical methods
Rok uplatnění: 2019
Rok odeslání: 2019
 
Záznam vložil: Ing. Ivana Klačková
Poslední změna: 22. 06. 2019, 22:22 (Import dat z knihovny)


Bližší určení zdroje:

Journal of Instrumentation. 2019.

Originální název: Journal of Instrumentation
Anglický název:
Český název:
Editor:
Druh publikace: sborník
ISBN:
Nakladatel:
Místo vydání:
Edice a číslo svazku:
Rok vydání: 2019
Číslo vydání:
Počet stran:
Typ rozsahu:
Druh sborníku:
Akce:
Původní jazyk:
Popis v originálním jazyce:
Popis v anglickém jazyce:
Popis v českém jazyce:
Rok uplatnění: 2019
Rok odeslání:
Poslední změna: 18. 05. 2019, 22:21 (Import dat z knihovny)