18. 10. 2019  21:01 Lukáš
Akademický informačný systém

Ústav výskumu progresívnych technológií (MTF) - zoznam publikácií


V nasledujúcom súhrne sú uvedené všetky informácie evidované k publikáciám.

DOBROVODSKÝ, J. -- VAŇA, D. -- BEŇO, M. -- LOFAJ, F. Hydrogen depth profile measurement of WC thin films by ERDA and 1H(19F,αγ)16O resonance NRA. In Development of Materials Science in Research and Education (DMS - RE 2019). CSACG, 2019 Bratislava: 2019, s. 19. ISBN 978-80-8208-019-6.

Originálny názov: Hydrogen depth profile measurement of WC thin films by ERDA and 1H(19F,αγ)16O resonance NRA
Slovenský názov:
Autor: Ing. Jozef Dobrovodský, CSc. (25%)
Ing. Dušan Vaňa, PhD. (25%)
Ing. Matúš Beňo, PhD. (25%)
doc. RNDr. František Lofaj, DrSc. (25%)
Pracovisko: Ústav výskumu progresívnych technológií
Druh publikácie: príspevky v zborníkoch, kapitoly v monografiách/učebniciach, abstrakty
Zborník: Development of Materials Science in Research and Education (DMS - RE 2019)
Podnázov:
Od strany: 19
Do strany: 19
Počet strán: 1
Pôvodný jazyk: angličtina
Kategória publikácie: AFH Abstrakty príspevkov z domácich vedeckých konferencií
Vedný odbor:
Rok uplatnenia: 2019
Rok odoslania: 2019
 
Záznam vložil: Ing. Jozef Dobrovodský, CSc.
Posledná zmena: 21.09.2019 22:21 (Import dát z knižnice)


Bližšie určenie zdroja:

Development of Materials Science in Research and Education (DMS - RE 2019). CSACG, 2019 Bratislava: 2019. ISBN 978-80-8208-019-6.

Originálny názov: Development of Materials Science in Research and Education (DMS - RE 2019)
Anglický názov:
Český názov:
Editor:
Druh publikácie: zborník
ISBN: 978-80-8208-019-6
Vydavateľ:
Miesto vydania: CSACG, 2019 Bratislava
Edícia a číslo zväzku:
Rok vydania: 2019
Číslo vydania:
Počet strán:
Typ rozsahu:
Druh zborníka:
Akcia:
Pôvodný jazyk:
Popis v originálnom jazyku:
Popis v anglickom jazyku:
Popis v českom jazyku:
Rok uplatnenia: 2019
Rok odoslania:
Posledná zmena: 21.09.2019 22:21 (Import dát z knižnice)