22. 10. 2019  8:14 Sergej
Akademický informační systém

Projekty


Rastrovací kapacitný tranzietový mikroskop na analýzu defektov v polovodičoch na nanometrovej úrovni

Garant: doc. Ing. Ján Hribik, PhD.


Základní informace   Pracovníci      


Následující tabulka zobrazuje podrobnější informace o pracovnících projektu "Rastrovací kapacitný tranzietový mikroskop na analýzu defektov v polovodičoch na nanometrovej úrovni".


Seznam všech pracovníků projektu

V následující tabulce je seznam všech pracovníků pracujících na projektu.

PracovníkRolePracovištěTelefonKancelář
doc. Ing. Ján Hribik, PhD.ÚEF FEI [ukončeno]+421 (2) 60 291 353B117
Nataša UčňováPS Dek FEI+421 (2) 60 291 345T 139
Ing. Štefan LányiMTF I-TVA [ukončeno]

Legenda
Role:administrativametodický řešitelřešitelpomocníkpozorovatel