17. 10. 2019  11:23 Hedviga
Akademický informačný systém

Projekty


Rastrovací kapacitný tranzietový mikroskop na analýzu defektov v polovodičoch na nanometrovej úrovni

Garant: doc. Ing. Ján Hribik, PhD.


Základné informácie   Pracovníci      


Nasledujúca tabuľka zobrazuje podrobnejšie informácie o pracovníkoch projektu "Rastrovací kapacitný tranzietový mikroskop na analýzu defektov v polovodičoch na nanometrovej úrovni".


Zoznam všetkých pracovníkov projektu

V nasledujúcej tabuľke je zoznam všetkých pracovníkov pracujúcich na projekte.

PracovníkÚlohaPracoviskoTelefónKancelária
doc. Ing. Ján Hribik, PhD.ÚEF FEI [ukončené]+421 (2) 60 291 353B117
Nataša UčňováPS Dek FEI+421 (2) 60 291 345T 139
Ing. Štefan LányiMTF I-TVA [ukončené]

Legenda
Úloha:administratívametodický riešiteľriešiteľpomocníkpozorovateľ