19. 9. 2019  6:28 Konštantín, pamätný deň - Deň prvého verejného vystúpenia Slovenskej národnej rady
Akademický informačný systém

Projekty


Rastrovací kapacitný tranzietový mikroskop na analýzu defektov v polovodičoch na nanometrovej úrovni

Garant: doc. Ing. Ján Hribik, PhD.


Základné informácie   Pracovníci      


Na tejto stránke máte zobrazené podrobné informácie o projekte. Pri hlavných projektoch sa zobrazuje navyše zoznam podprojektov.

Popis projektu:Preskúmať možnosť analýzy koncentrácie elektricky aktívnych defektov v polovodičoch a ich identifikácie na nanometrovej úrovni. Výsledkom bude unikátny rastovací sondový mikroskop, použiteľný na lokálnu spektroskopiu hlbokých defektov a na mapovanie výskytu vybraného typu defektu vo vzorke.
Druh projektu:VEGA ()
Pracovisko:Katedra rádioelektroniky (FEI)
Identifikácia projektu:2/0107/08
Stav projektu:Ukončený úspešne
Dátum začatia projektu:01. 01. 2008
Dátum ukončenia projektu:31. 12. 2010
Počet pracovníkov projektu:3
Počet oficiálnych pracovníkov projektu:0