14. 10. 2019  14:51 Boris
Akademický informační systém

Projekty


Progresívne parametrické metódy testovania a zvyšovania spoľahlivosti zmieŠaných integrovaných obvodov a systémov

Garant: prof. Ing. Viera Stopjaková, PhD.


Základní informace   Pracovníci      


Na této stránce máte zobrazeny podrobné informace o projektu. U hlavních projektů se zobrazuje navíc seznam podprojektů.

Popis projektu:Cieľom projektu je výskum a vývoj nových progresívnych metód parametrického testovania analógových a zmiešaných integrovaných obvodov (IO) priamo na čipe vysokej spoľahlivosti. Analýza nových fyzikálnych defektov a poruchových mechanizmov spôsobujúcich pokles výťažnosti ako aj celkové zníženie dlhodobej spoľahlivosti nízkonapäťových a nízkopríkonových IO vyrábaných v submikrometrových technológiách. Vylepšenie elektrických modelov týchto porúch a rozvoj doplnkových vstavaných parametrických metód na pokrytie týchto špecifických defektov a analýza možnosti ich využitia pre hromadné výrobné testovanie zmiešaných IO. Využitie metód číslicového spracovania signálu a umelej inteligencie na zvýšenie účinnosti jednotlivých parametrických metód. Implementovanie navrhnutých metód a metodológii do vstavaného testovacieho hardvéru použiteľného v reálnych aplikáciách súčasných IO. Overenie vyvinutých testovacích techník na navrhnutom experimentálnom zmiešanom integrovanom obvode.
Druh projektu:VEGA ()
Pracoviště:Katedra mikroelektroniky (FEI)
Identifikace projektu:1/0285/09
Stav projektu:Ukončený úspěšně
Datum zahájení projektu:01. 01. 2009
Datum ukončení projektu:31. 12. 2012
Počet pracovníků projektu:2
Počet oficiálních pracovníků projektu:0