22. 9. 2019  12:24 Móric
Akademický informačný systém

Projekty


Progresívne parametrické metódy testovania a zvyšovania spoľahlivosti zmieŠaných integrovaných obvodov a systémov

Garant: prof. Ing. Viera Stopjaková, PhD.


Základné informácie   Pracovníci      


Na tejto stránke máte zobrazené podrobné informácie o projekte. Pri hlavných projektoch sa zobrazuje navyše zoznam podprojektov.

Popis projektu:Cieľom projektu je výskum a vývoj nových progresívnych metód parametrického testovania analógových a zmiešaných integrovaných obvodov (IO) priamo na čipe vysokej spoľahlivosti. Analýza nových fyzikálnych defektov a poruchových mechanizmov spôsobujúcich pokles výťažnosti ako aj celkové zníženie dlhodobej spoľahlivosti nízkonapäťových a nízkopríkonových IO vyrábaných v submikrometrových technológiách. Vylepšenie elektrických modelov týchto porúch a rozvoj doplnkových vstavaných parametrických metód na pokrytie týchto špecifických defektov a analýza možnosti ich využitia pre hromadné výrobné testovanie zmiešaných IO. Využitie metód číslicového spracovania signálu a umelej inteligencie na zvýšenie účinnosti jednotlivých parametrických metód. Implementovanie navrhnutých metód a metodológii do vstavaného testovacieho hardvéru použiteľného v reálnych aplikáciách súčasných IO. Overenie vyvinutých testovacích techník na navrhnutom experimentálnom zmiešanom integrovanom obvode.
Druh projektu:VEGA ()
Pracovisko:Katedra mikroelektroniky (FEI)
Identifikácia projektu:1/0285/09
Stav projektu:Ukončený úspešne
Dátum začatia projektu:01. 01. 2009
Dátum ukončenia projektu:31. 12. 2012
Počet pracovníkov projektu:2
Počet oficiálnych pracovníkov projektu:0